多次曝光的测光范围、多次曝光模式、检测结果的排序
工业自动化专家 CAD2D3D.com 3. 基本操作 B 83304CM/04 多次曝光的测光范围指定在多次眠光中使用的测光范围根据测光范围内的亮度,进行图像的合成标准什为全面而,通党无需进行变更设定测光范围时,按下示教]按钮而设定窗口窗口的设定方法,请参 st BT 50 DL BTN 3 [H ] B TR 1 2 RA0TSTT . JER0 BTkt S0 37,04 ML 多次曝光模式选择多次曝光中的图像合成方法标准偏差计算测光范围内的图像辉度的标准偏差,以留下稍许引起光晕的像素之方式进行合成这是标准设定最大亮度以测光范围内的图像不会引起光晕的方式抑制最大亮度而进行合成测光范围内只要其中 1 点有引起光晕的部分,除此以外的部分就会相对变得暗淡平均光度单纯获取各图像的亮度平均的合成广法这是动态范围变得最广的方法,但是整体上图像变得瞳淡 3.7.16 检测结果的排序在几个视觉程序中,支持以指定了所检测出的多个对象物的值进行排序的功能排序功能的操作方法共同排序基准 : 排序键排列师序, BEF v 1 在[排序基准]的下拉框中选择成为排序键的工具 2 在[排序键]的下拉框中选择成为排序键的值 3 在[排序顺序]的下拉框中选择排序的顺序[排序基准]中显示如下的选项视觉处理等级以视觉程序中计算出的值 (XYZ 等 ) 进行排序级命令工具等级以检测工具的结果 VtHz 大小评分等 ) 进行排序子级命令工具等级以配置在检测工具下的辅助工具的结果直方图数值计算等 ) 进行排序希望以配置在检测工具中的辅助工具的计测结果进行排序时,该辅助工具成为配置在检测工具下的最初的工具艾如,如下图所示构成的情况下,在希望以 Histogram Tool 2 的结果进行排序时,调换 Histogram Tool 1 和 Histogram Tool 2 的顺序日瘦 2-D Single-Wiew Vision Process i (l]Histogran Tool 1 [l Histogran Tool 2 检测工具有多个,且希望以配置检测工具下的辅助工具的结果进行排序时,所有检测工具中只有最初的辅助工具为相同种类的工具时,可以将辅助工具设为排序的键璧如,在如下 (9 所示的情况下,虽然可以直方图的结果进行排序,但是如 (b) 所示的情况下,则无法以直方图的结果或棱线对检测的结果进行排序 S48 -